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전계방사형주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope)사진1
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전계방사형주사전자현미경
Field Emission Scanning Electron Microscope
  • 분 석 실주사전자현미경실
  • 담 당 자김보경
  • 연 락 처02-970-7256
  • 제 조 국일본
  • 제 조 사JEOL Ltd.
  • 취 급 처지올코리아
  • 구입일자2005.07.27
기기예약일정기기예약신청전계방사형주사전자현미경기기 관련 자료가 없습니다.
전계방사형주사전자현미경 기기상세정보
모델
JSM-6700F
규격
(FE-SEM)
-Accelerating Voltage : 0.5 ~ 30kV
-Magnification : 25 ~ 650,000
-Resolution : 1.0㎚(15kV), 2.2㎚(1kV)
-Image : SEI, BEI
(EDS)
-Detectable element : B(5) ~ U(92)
-Detection range : 120eV ~ 20keV
-Resolution : 139eV
용도 및 응용분야
-용도설명 : 고진공중에서 금속표면에 강한 양전위를 걸어 주어 전자를 표면으로부터 떼어내는 방식으로 열전자에 비해 전류밀도가 매우 높기 때문에 고휘도의 전자빔을 얻을 수 있다. 따라서 일반 주사 현미경보다 고분해능,고배율로 분석이 가능하고, 에너지분산분석기(EDS)를 부착하여 시료의 전체적인 정성, 정량분석 및 구성원소의 분포확인이 가능하다.
-응용분야 : SEM 본체에 EDS를 부착하여시료의 전체적인 성분분석 가능
나노 수준의 미세구조 관찰
표면구조의 고해상도/고배율 관찰
금속, 무기재료, 반도체, 섬유, 세라믹, 고분자 물질 등 광범위 시료의 미세 조직 관찰
에너지분산분석기(EDS)를 이용한 시료의 정성, 정량분석 및 구성원소의 분포 확인 등
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