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주사전자현미경(Scaning Electron Microscope)사진1
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주사전자현미경
Scaning Electron Microscope
  • 분 석 실주사전자현미경실
  • 담 당 자김보경
  • 연 락 처02-970-7256
  • 제 조 국체코
  • 제 조 사Tescan
  • 취 급 처Tescan Korea
  • 구입일자2013.02.20
기기예약일정기기예약신청주사전자현미경기기 관련 자료가 없습니다.
주사전자현미경 기기상세정보
모델
TESCAN VEGA3
원리
-금속, 무기재료, 반도체, 섬유, 세라믹, 고분자 물질 등의 미세조직 관찰 및 분석-미세입자의 크기 및 형태 관찰
규격
-Resolution : 2.0nm at 30kv(LaB6)
-Accelerating Voltage : 200V~30kv
-EDS Detectable Element : B(5)~U(92)
용도 및 응용분야
-각종 시료의 미세영역에 대한조직 관찰 및 분석-미세입자의 Size 측정 및 형태 관찰 분석-각종 시료의 정성/정량분석 및 구성원소의 분포 확인 등-금속, 무기재료, 반도체, 섬유, 세라믹, 고분자 물질 등의 미세조직 관찰 및 분석-미세입자의 크기 및 형태 관찰
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