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투과전자현미경(Transmission Electron Microscope)사진1
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투과전자현미경
Transmission Electron Microscope
  • 분 석 실투과전자현미경실
  • 담 당 자배혜진
  • 연 락 처02-970-7260
  • 제 조 국일본
  • 제 조 사JEOL Ltd./일본
  • 취 급 처JEOL
  • 구입일자2002.07.15
기기예약일정기기예약신청투과전자현미경기기 관련 자료가 없습니다.
<시편 준비 사항>
* 분말 시료: 시편 전처리 지원 가능 (전처리 비용 별도)
* 블럭(벌크) 시료, 세라믹/금속 시료: 시편 전처리 지원 불가, 전처리 완료된 시료만 분석 가능
* 건조 후 점성이 있는 시료는 분석 불가
투과전자현미경 기기상세정보
모델
JEM-2010/JEOL/JP
원리
투과전자현미경(transmission electron microscope, TEM)은 가시광선보다 극도로 짧은 파장의 전자빔을 광원으로 하는 고분해능 영상장비로서, 물질의 미소영역에 있는 내부구조 및 형태, 격자결함, 결정성, 화학조성 등의 정보를 얻는다.
즉, 얇은 시편을 투과/회절한 전자들을 이용하여, 나노 스케일의 이미지 또는 혹은 회절패턴을 얻어 시료의 미세구조를 분석할 수 있다.
규격
■ Voltage: up to 200kV
■ Gun Type: LaB6
■ Resolution: Point 0.23 nm, Lattice 0.14 nm
■ Mode: TEM/STEM/EDS
■ Magnification : X 50 ~ 1,500,000
용도 및 응용분야
■ 나노입자/분말 시료 분석
- 입자의 크기와 형상 관찰, 결정성 확인

■ 고분자 시료 분석
- film 코딩막 두께 측정 및 적층 구조 관찰
- clay, graphene 등 합성 물질의 형상 및 분포 상태 등 확인

■ 금속 및 세라믹 시료 분석
- 내부조직의 격자상 관찰
- 시편의 모재와 석출물의 크기/분포 관찰

■ 반도체 시료 분석
- Thin film의 두께 측정, 기판과 증착층 간의 방위관계 관찰

■ 성분분석, 원소별 Color mapping

<시편 준비 참고사항>
* 분말 시료: 시편 전처리 지원 가능 (전처리 비용 별도)
* 블럭(벌크) 시료, 세라믹/금속 시료: 시편 전처리 지원 불가, 전처리 완료된 시료만 분석 가능
* 건조 후 점성이 있는 시료는 분석 불가
구성품
■ TEM/STEM (JEM 2010)
■ CCD Camera (Gatan ORIUS1000, 4K*2K))
■ EDS (INCA/Oxford)
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