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주사탐침현미경(Scaning Probe Microscope)사진1
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주사탐침현미경
Scaning Probe Microscope
  • 분 석 실미세구조분석실
  • 담 당 자김보경
  • 연 락 처02-970-7245
  • 제 조 국대한민국
  • 제 조 사PSIA Inc.
  • 취 급 처
  • 구입일자2006.12.19
기기예약일정기기예약신청주사탐침현미경기기 관련 자료가 없습니다.
주사탐침현미경 기기상세정보
모델
XE-100
규격
(Mechanical)
- Sample size : Up to 100x100mm , 20mm thick
- Sample stage traval : 25 x 25 mm
(X-Y scanner)
- Scan size : 50 x 50 ㎛
- Resolution : < 0.15 nm
(Z-scanner)
- Scan size : 12 ㎛
- Resolution : 0.05nm
(Z-stage)
- Traval : 30nm
- Resolution : 0.08㎛
용도 및 응용분야
- 용도설명 : 미세한 시료 표면의 형상, 단차, 거칠기 등 측정
- 응용분야 : 반도체의 표면 계측, 화학 및 고분자, 재료공학, 기타 표면분석 등
- 활용예시 : 미세한 시료의 표면을 3D로 관찰하고, 높이를 측정할 수 있음
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